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近場探頭上限頻率決定因素
點擊次數(shù):2122 更新時間:2018-08-28
近場探頭上限頻率決定因素
近場探頭的上限頻率是由探頭端的尺寸和設(shè)計決定的。所有探頭均無源,并且可以連接到測試接收機或頻譜分析儀的50W輸入端。近場探頭前置放大器可以增加靈敏度。
電路設(shè)計人員通常對模塊進(jìn)行近場測量,以確定電磁干擾是否超過EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的閾值。基于場強測量,設(shè)計人員已經(jīng)知道被測電路板或模塊的幾個臨界頻率。降低EMI的一個實用方法是分析近場、確定干擾源位置并提出有針對性的應(yīng)對措施。
近場探頭用途:
1.主要應(yīng)用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生的原因;
2.可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度;
3.可以檢測磁場耦合的通道,從而調(diào)整連接器或者是顯示器的位置;
4.可以檢測PCB附近的磁場環(huán)境情況;
5.可用于電子產(chǎn)品漏信(信號泄漏)檢測分析。
產(chǎn)品重量:0KG
產(chǎn)品尺寸:φ45×40mm
近場探頭的上限頻率是由探頭端的尺寸和設(shè)計決定的。所有探頭均無源,并且可以連接到測試接收機或頻譜分析儀的50W輸入端。近場探頭前置放大器可以增加靈敏度。
電路設(shè)計人員通常對模塊進(jìn)行近場測量,以確定電磁干擾是否超過EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的閾值。基于場強測量,設(shè)計人員已經(jīng)知道被測電路板或模塊的幾個臨界頻率。降低EMI的一個實用方法是分析近場、確定干擾源位置并提出有針對性的應(yīng)對措施。
近場探頭用途:
1.主要應(yīng)用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生的原因;
2.可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度;
3.可以檢測磁場耦合的通道,從而調(diào)整連接器或者是顯示器的位置;
4.可以檢測PCB附近的磁場環(huán)境情況;
5.可用于電子產(chǎn)品漏信(信號泄漏)檢測分析。
產(chǎn)品重量:0KG
產(chǎn)品尺寸:φ45×40mm